是德科技公司（NYSE:KEYS）近日宣布，在美国加州圣克拉拉会展中心举办的PCI-SIG2015 年开发者大会上，展示了其 PCI Express（PCIe）解决方案。
本次开发者大会上，是德科技展出众多解决方案，包括 PCIe Hot
TDR测量、物理层测试系统（PLTS）、PCIe/NVMe协议测试、PCIe发射机和接收机测试、PCIe 和 USB
设计仿真工具。是德科技展出了超过 25 种硬件和软件产品，旨在帮助工程师应对当前和未来的设计与测量挑战。
此外，是德科技还隆重推出了以下新产品：
U4305B-E04 练习器提供 L1 Substate分析特性，可用于验证 2.5、5 和 8 Gbps PCIe技术和 LTSSM 操作
M8020A J-BERT 高性能比特误码率测试仪推出可调节码间干扰（ISI）功能和基于 PCI Express 技术的交互式链路训练功能
先进设计系统（ADS）仿真元件，包括 W2352EP PCI Express一致性测试台和 W2353EP USB一致性测试台。
PCI-SIG主席兼总裁 Al Yanes表示：“是德科技是 PCI-SIG的资深成员，一直专注于为 PCI Express设计和测量解决方案开发更好的测试工具。是德科技解决方案将确保 PCI-SIG的成员可以使用必要的测试仪器来验证 PCIe器件的互操作性。”
是德科技数字测试标准计划
是德科技专家积极参与国际标准委员会的工作，并推动和支持是德科技开发数字应用解决方案。是德科技专家参与的标准组织包括电子器件工程联合会 （JEDEC）、PCI特殊利益集团（PCI-SIG）、视频电子标准协会（VESA）、串行 ATA 国际组织（SATA-IO）、USB应用厂商论坛（USB-IF）、移动行业处理器接口（MIPI）联盟、以太网标准（IEEE 802.3）、光互联网络论坛（OIF）和其他多个组织。是德科技踊跃参与国际标准组织及其相关的研讨会和活动，以便是德科技能够适时推出恰当的测试解决 方案，满足客户持续演进的需求。
