电子器件网介绍检测电子元件缺陷的方法
通常一个电子产品会由成百上千的电子元器件组成它们决定电子产品的输入输出参数、工作特性、用户界面等特性。保证每个元器件的可靠性即是保证整个产品的可靠性。可是在现实中工程师不可能对所有器件进行一一验证;因此对器件进行筛选找出对质量影响关键的小部分器件是质量管理需要做的重要一步电子器件网称这样既提高经济性又能覆盖产品的可靠性要求。
1、MEOST法
为快速检测出产品中的潜在缺陷从而找出电子产品中的设计缺陷或者质量关键的元器件(瓶颈)通常各个公司会进行相应的寿命试验给予产品一定的应力观察寿命结束时的失效模式进行相应的判断。而这里推荐一种运用多重应力配合来加速产品失效从而可以快速检测产品潜在缺陷的新型可靠性测试技术即MEOST。它在短时间里将多重应力加载在产品上并不断增大压力直到破坏限值的三分之二进而在短时间内发现设计或制造中的潜在问题并识别失效模式依据实际情况对其进行处理。
2、排列图法
为确定电子产品的关键元器件我们也可以通过过去的产品维修记录数据总结并找出历年失效比例比较高的一些失效模式再从中筛选出问题发生次数较多的一些器件作为质量关键器件。而这里采用的筛选方法叫做排列图法。排列图法又称主次因素分析法、帕累托图法其目的是比较不同的缺陷类型所导致的结果或对顾客的影响以便找出较重要的需要优先关注的问题它是找出影响产品质量主要因素的一种简单而有效的图表方法。
电子器件网所言:之所以要选择以上两种方法来检测产品缺陷是因为它们在可靠性试验中引入问题激发机制而且全新的多重应力组合试验方法被引入大大优化试验效率不单单可以用来估计产品的正常工作寿命还可以协助界定材料、工艺的优缺点以及产品中的关键元件为后续的改进和控制工作提供对象。
（免责声明：素材来自网络，由云汉芯城小编搜集网络资料编辑整理，如有问题请联系处理！）
