哪些光源会影响电子元件检测的质量

电子元件的检测需要各种辅助照明在检测不同的元件时光源距离元件的位置和光源的色泽都有很大的差别很多人都认为照明的工作距离是影响元件检测质量的关键所在但实际上光源与物体之间的距离可能会影响到清晰度那么哪些光源会影响电子元件检测的质量呢?

1、前向照明

前向照明是指元件放在光源和相机之前与背向照明不同的是相机借助于反射光成像。前向照明时光源照射到物体上物体反射出的光进入镜头有利于表现物体的表面细节特征可以用于各种表面缺陷检测。但是这种方式的缺点是投影可以采用以多种解决方案:如利用环形灯照明可以实现脱影拍摄或者漫反射利用一个半球形的均匀照明或直射光钱覆盖一层漫反射半透明材料来减弱投影的影响;或者多灯照明采用两盏或两盏以上的照明灯对称布光从而在一定程度上减弱投影。采用这种照明方式的优点是便于安装、调试。但是如果光照不均匀CCD相机获得的图像信息很容造成明显的阴影和局部亮点无法产生清晰的缺陷图像因此合理的光源在本系统起到十分关键的作用。

2、背向照明

背向照明是当元件在光源和相机之间通常称为逆光照明。当相机通过透射光成像时合适的光照可使背景变为白色从而凸显出目标物体的轮廓并获得高对比度的图像。但是对于全透明或半透明的物体如啤酒瓶、管制玻璃瓶等光源亮度及均匀分布尤为关键。光照太强且分布不均匀会直接导致无法成像即使改变背景也无法达到预期的效果光照太弱图像成像又不清晰不能凸显出缺陷影响对待测目标的准确判断。因此分布均匀的光源是产生清晰缺陷图像的必要前提同时还要保证光照强度在一定亮度。此外光源的形状、光照的面积以及其它方面也是影响成像效果的因素。

业内人士称在电子元件检测时偶尔也会采用环形照明该种环形照明与前两种照明方式一样可以保证充足的无阴影照明可以有效的甄别出电子元器件表面的缺陷一般来说使用环形照明时会附加滤光片和偏振器这样既可以消除电子元器件上面的镜面反射又可以将缺陷表现的更加清晰。

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