美国国家仪器有限公司（National Instruments，简称NI）2014年度“NIDays全球图形化系统设计盛会”中国站于近日在北京万达索菲特大酒店圆满落幕。围绕“You and NI Will”这一主题，本届NIDays打造了一场分享与交流的技术盛会，聚焦合作伙伴、客户与NI一起在不同行业的成功应用，启迪未来的项目实践，加速应用创新。活动共吸引了近六百余位来自不同行业的工程师和二十多家行业媒体参加。

全天的活动以NI东亚地区副总裁Ajit Gokhale的主题发言“NI将与您一起，携手解决创建物联网所带来的挑战”拉开了序幕。Gokhale先生同与会者一起讨论了工程的创新和物联网技术发展，以及驱动物联网的发展5个关键性技术革新：摩尔定律、梅特卡夫定律、电池技术的发展、移动通讯网络的发展和传感器技术。深入介绍了行业前沿技术的发展，诸如物联网、大数据和无线创新技术等给我们带来了创新的机会，并且NI将如何借助图形化系统设计帮助工程师和科学家加速应用创新，共同解决物联网时代所带来的挑战。贯穿全天的两大专家级主题演讲、20多场技术讲座、30多个互动性演示、7个新产品发布为与会者带来前沿的技术创新和应用解决方案。今年在NIDays发布的新产品有企业级设备状态监测软件NI InsightCM、NI半导体测试系统(STS)、LabVIEW 2014、CompactRIO高性能控制器和软件设计的仪器PXIe-5668R矢量信号分析仪和PXIe-5170R示波器以及sbRIO-9651模块化系统(SOM)。除了带领与会者感受的测控技术趋势和NI新产品特性之外，更是着眼于行业应用。从发现新能源到企业级设备状态监测、从汽车电子到国防与航空航天、从射频无线通信到智能工业系统，全方位地展示了NI如何携手各领域的工程师和科学家们利用图形化系统设计平台，不断创新，解决各种应用挑战。

NIDays不仅为工程师和科学家提供了一个了解产品和技术的平台，而且致力于打造成为工程师、媒体和合作伙伴的节日，让与会来宾和NI一起在轻松有趣的气氛中有所收获。为此，本届NIDays开辟了合作伙伴特别展示区，为合作伙伴及系统联盟商的互动和分享提供了一个现场开放的展示平台。除了丰富的本地资源互动展示，还有精彩纷呈的应用技巧和经验分享，包括了9家合作伙伴在现场展示了其行业案例及实用技巧。在产品互动区，工程师可以体验运用LabVIEW开发的软硬件平台，感受基于图形化系统设计平台的创新亦或是参观2013年LabVIEW天下会的冠军作品等。此外，闭幕式压轴上演了“合作伙伴、媒体、客户与NI共创”冰雕灌注仪式，将本次活动再次推向了高潮。

从技术讲座到应用展示，精心安排的各种活动让到场的工程师纷纷表示不虚此行。来自中科院微电子所 系统总体室射频系统集成与测试实验室的技术负责人孟真已经是连续第3年参加NIDays，他表示：“每次参加NIDays都有一些新的收获，09年开始使用NI公司的测试仪器，NI工程师给予他们很多帮助使得他们完成半导体测试专项研究，希望NI将来能够推出更多模块化的产品，继续和NI一起进步，共同成长。”同时，作为NI的重要合作伙伴，北京恒润科技有限公司咨询业务总监薛俊亮先生也表示：“通过NIDays与NI、各联盟商及广大用户进行了细致的交流，基于NI这个平台，对NI的产品和能力有了更加深入的了解。未来恒润科技希望能与NI共同努力，为国内汽车电子研发工作添砖加瓦。”

NIDays作为一个连续十六年在中国地区举办的年度技术盛会，其所倡导的图形化系统设计概念早已深入人心。NI也将持续投资，加速创新，从而助力本地客户的成功。